W dniach 21-23 maja 2018 odbyła się kolejna edycja seminarium „Spektrometria XRF w teorii i praktyce”. Tegoroczne wydarzenie zostało tradycyjnie zorganizowane przez Instytut Metali Nieżelaznych i firmę Malvern Panalytical w hotelu Diament w Ustroniu.

Uczestnicy mogli zapoznać się z podstawami teoretycznymi spektrometrii XRF, innowacjami w tej technice, metodami preparatyki próbek, matematycznymi modelami korekcji efektów matrycowych, metodami mikroekstrakcji stosowanymi we wzbogacaniu próbek analizowanych następnie metodami XRF oraz zagadnieniami z zakresu wytwarzania i użytkowania materiałów odniesienia. Część warsztatowa obejmowała praktyczne przygotowanie kalibrowanych aplikacji ilościowych oraz praktyczne zastosowanie analizy bezwzorcowej i interpretację widm. Całość zakończył wykład podsumowujący pułapki, które czyhają na rentgenospektroskopistów na różnych etapach analizy.

Wykłady wygłosili: prof. dr hab. Rafał Sitko (Uniwersytet Śląski), dr hab. Beata Zawisza (Uniwersytet Śląski), dr inż. Tadeusz Gorewoda (IMN), dr inż. Zofia Mzyk (IMN), mgr inż. Jacek Anyszkiewicz (IMN), mgr inż. Katarzyna Stepaniuk (MP) oraz mgr inż. Szymon Stolarek (MP).

Serdecznie dziękujemy wszystkim uczestnikom oraz wykładowcom za owocnie spędzony czas. Kolejne spotkanie planujemy na początku czerwca 2019 roku. Szczegółowe informacje zostaną podane na stronie IMN oraz w prasie specjalistycznej. Zapraszamy!

Zobacz galerię zdjęć

Ta strona używa COOKIES.

Korzystając z niej wyrażasz zgodę na wykorzystywanie cookies, zgodnie z ustawieniami Twojej przeglądarki.

OK, zamknij