W dniach 21-23 maja 2018 r. odbyła się kolejna edycja seminarium
„Spektrometria XRF w teorii i praktyce”. Tegoroczne wydarzenie
zostało tradycyjnie zorganizowane przez Instytut Metali Nieżelaznych i firmę Malvern
Panalytical w hotelu Diament w Ustroniu.
Uczestnicy mogli zapoznać się z
podstawami teoretycznymi spektrometrii XRF, innowacjami w tej technice, metodami
preparatyki próbek, matematycznymi modelami korekcji efektów matrycowych,
metodami mikroekstrakcji stosowanymi we wzbogacaniu próbek analizowanych
następnie metodami XRF oraz zagadnieniami z zakresu wytwarzania i użytkowania
materiałów odniesienia. Część warsztatowa obejmowała praktyczne przygotowanie
kalibrowanych aplikacji ilościowych oraz praktyczne zastosowanie analizy bezwzorcowej
i interpretację widm. Całość zakończył wykład podsumowujący pułapki, które
czyhają na rentgenospektroskopistów na różnych etapach analizy.
Wykłady wygłosili: prof. dr hab. Rafał Sitko (Uniwersytet Śląski), dr hab.
Beata Zawisza (Uniwersytet Śląski), dr inż. Tadeusz Gorewoda (IMN), dr inż.
Zofia Mzyk (IMN), mgr inż. Jacek Anyszkiewicz (IMN), mgr inż. Katarzyna Stepaniuk
(MP) oraz mgr inż. Szymon Stolarek (MP).
Serdecznie dziękujemy wszystkim uczestnikom oraz wykładowcom za owocnie spędzony czas. Kolejne spotkanie planujemy na początku czerwca 2019 roku. Szczegółowe informacje zostaną podane na stronie IMN oraz w prasie specjalistycznej. Zapraszamy!
